一招将石榴石固态电解质变得空气稳定、亲锂.docx
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1、【背景】石榴石型电解质由于其高离子传导性和宽广的电化学窗口,在固态锂电池的应用中表明出巨大的潜力。然而,由于空气暴露而形成的表面1.i2C03,引发了与锂金属的不均匀接触,导致了不良的枝晶生长和性能恶化。【工作介绍】本工作通过采取熔融NH4H2P04盐驱动的转换反应,在石榴石表面建立取代1.i2C03污染物的1.i3P04层。高流动性的熔盐有助于1.i3PO4的保形形成,通过防止空气中H2O/CO2的反应,实现了空气稳定的石榴石。此外,1.i3PO4在锂金属上的高附着力,以及在与熔融锂金属接触时从1.i3P04转变为1.i3P1.i2O,使得亲锂的界面得以形成,导致锂/石榴石的可以无缝接触,实
2、现超低的界面电阻为13cm2o这样的离子传导但电子绝缘层可以调节锂流量的均匀分布,使临界电流密度达到1.2mAcrn-2。此外,改性石榴石的固体1.iCo02/1.i电池在30oC下的放电容量为130mAhg-1,同时在150次循环后容量保持率为81%。这项研究提出了一个很有前途的解决方案,即利用简单的熔盐处理改善石榴石的空气稳定性和界面兼容性。【具体内容】1.1.ZTOexposedtoair1.1.ZTO-1.ilCOi1.1.ZTO-UsPO4图l-a)1.1.ZTO颗粒遭受空气暴露,形成表面1.i2C03,然后用熔融NH4H2P04盐处理。产生的表面1.i3P04层保护1.1.ZTO块
3、体免受空气中H20/C02的进一步攻击。b)1.1.ZTO表面的熔融1.i与1.i2C03污染物的示意图,其中接触角大于90c)1.i3P04修饰的1.1.ZTO表面的熔融1.i的示意图,在此期间,包括1.i3P和1.i20在内的离子导电SEI膜在原位形成,导致密集的1.i/1.1.ZTO界面,接触角90。熔融NH4H2P04盐处理的1.1.ZTO颗粒的特性1.i6.41.a3Zrl.4TaO.6012(1.1.ZTO)电解质是通过固相反应和热压烧结制备的。1.1.ZTo颗粒的横截面扫描电子显微镜(SEM)图像证明了其高密度和紧凑的晶粒接触。1.1.ZTo颗粒的离子电导率在30C时为1.051
4、0-3Scm-Io图2a,b表明了新制备的1.1.ZTO和熔融的NH4H2P04盐处理的1.1.ZTO在空气中暴露20天之前和之后的X射线衍射(XRD)图案和拉曼光谱。在X射线衍射图谱中检测到21.4的1.i2C03特征峰,同时在新鲜1.1.ZTO的拉曼光谱中检测到1089ClnT的C032-振动峰,这表明即使在制备石榴石颗粒的过程中也会形成表面污染物。表面1.i2C03的数量随着暴露在空气中时间的增加而不断增加。为了去除表面污染物,在185C下用熔融的NH4II2P04盐处理1.1.ZTO,基于其与1.i2C03的转化反应,如公式1所示。2NH4H2PO4()+31.iRCb(B)21.i3
5、PO4(三)+2NH3(g)+3H2O(g)+3CO2(g)图2-a)新鲜1.1.ZTO和1.1.ZTO-1.PO颗粒在空气中暴露20天前后的XRD图谱和b)拉曼光谱。d)方程1的吉布斯自由能变化与温度的关系。e)已制备的1.1.ZTo-1.Po颗粒的俯视SEM图像,以及f)C、P、0和Zr的相应元素图谱。热分析表明,1.i2C03粉末表现出高度的热稳定性,在400C以下没有明显的重量损失。同时,NH4II2P04粉末在180C左右开始分解为磷酸(H3P04)和NH3,随后H3P04在、250C分解为焦磷酸(H4P207)和H20。关于NH4H2P04和1.i2C03的混合物,与单一的NH4H
6、2P04或1.i2C03粉末相比,在比154C时开始明显出现较大的重量损失,表明由于NH4H2P04和1.i2C03的化学反应而释放出NH3、H20和C02的气体。经过这样的转化反应,惰性的1.i2C03被作为1.1.ZTO表面保护层的离子导电1.i3P04所取代(1.1.ZTo-1.P0),伴随着无副作用的气体释放。从图2a,b中可以看出,经过处理的1.1.ZTO颗粒消除了1.i2C03峰,没有额外的杂质信号,这验证了熔融NH4H2P04盐在不改变1.1.ZTO结构的情况下去除污染物的可行性。此外,新形成的1.i3P04表面层阻挡了1.1.ZTO块体在空气中受到H20和C02的反复攻击,可防
7、止碳酸酯污染物的不利影响超过20天(图2a,b)o如图2c所示,考虑到XRD和拉曼测量得到的1.1.ZTO表面层的信号相当微弱,这可能是由于从1.i2C03到1.i3P04的界面演化量很小,因此通过高分辨率X射线光电子能谱(XPS)进一步分析1.1.ZTO表面化学成分的转变。对于未经处理的1.1.ZTO颗粒(即制造后暴露在空气中3天的颗粒),CIS光谱中位于289.8和284.7eV的峰分别代表碳酸酯污染物和CTI基团。在经过熔盐处理后,强烈的C032-信号消失了,而P2p谱中134.OeV的峰出现了,揭示了在1.1.ZTO表面由1.i2C03转化为1.i3P04。此外,进一步进行了1.1.Z
8、TO-1.PO颗粒的CIs和P2p的XPS深度曲线,Ar溅射时间为0、60、300和800秒。随着蚀刻时间的增加,1.1.ZTO-1.PO的CIS和P2p的峰位几乎保持不变,也就是说,CIs光谱中*290eV处对应碳酸盐污染物的峰没有了,而P2p光谱中以134.0eV处源自1.i3P04的峰在整个蚀刻过程中存在。因此,XPS结果也证明了通过熔盐处理用1.i3P04层替代1.i2C03。此外,即使重新暴露在空气中长达20天,1.i3P04修饰的1.1.ZTO颗粒的XPS光谱与经过处理的颗粒相比几乎没有变化,表明其对空气侵蚀的高度稳定性。此外,通过密度函数理论(DFT)计算得到的方程1的随温度变化
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