GB_T 21711.2-2024 基础机电继电器 第2部分：可靠性.docx

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1、引宫IVI范困I2规苞性引用文件13术语和定乂I4总则35试验条件45.1 样品45.2 环境条件55.3 工作条件55.4 试验设备56失效判据57输出数擀68输出数据分析69可究性量值的表示6附录A（规范性）数据分析7网录B（宽料性）数据分析示梃16附录C（资料性）统计表25附录D（资料性）成功运行一一无失效的试验27考文献29图R.1威布尔粒率绘图纸示例9图A.2累枳失效率绘图纸示例IO图A.3标绘出的各数据点和绘制出的百线Il图A.4分布参数的估计Il图B.1分布参数估计18图氏2累积失效率图20fflB.3定型试验与成布尔贝叶斯分析的周期试脸比较24表A.I无失效品的威布尔贝叶斯亚信

2、度15表B.I累积失效率分析记录我）6衣B.2记录表示例18表B.3此案例中前20只失效品的数据21表C.1flntttt25衣C.2正态分布的分位数值26表D.1样品数和寿命循环次数28基础机电继电器第2部分：可靠性1M本文件规定了采用适当统计方法对继电罂酎久性试及迸行评定的试验条件和细则,以获得其可靠性的特性值，木文件适用于认为是不修理产品的战础机电继电器（即失效后不加以修理的产品继电器的寿命通常用褥环次数（CTF）&示。因此当在GB/T349872017中使用“时间”或“持坡时间”这些术谱时,都具有一循环次数”的含义.然而,在蛤定的工作频率下，循环次数可以转换为相应的时间（如失效前时间T

3、TD.木文件熄定了描述基础继电器在正常使用中可他性的失效判据和所得出的特性值，当达到煨定的失效判招时.则维电器失效发生.基础继电器的失效率不能认为是恒定的,特别是由轨根机理所造成的失效率，被试产H的失效前循环次数通常呈现为成布尔分布.本文件规定了以数位法和图解法计算两参数喊布尔分布的近似（ft.及以成布尔贝叶斯法确认可靠件Jft值的置信下限和方法.本文件不包括对基础机电维电涔增加的可施性验证要求使用的程序，注I:这种可靠性试验程序在IEC6181021中规定.特别是欣定将基砒机电继电器机装在符合IEC62061和GR/T1685区1规定与安全相关的机械控制系统中时，IK61810-2-1为制造

4、厂规定了提供Bifln由的试验如注2:JW符合IE06181。3规定的强制定位（机械联钺）触力:的基地机电第电寄能提供符合CBZT16855.12018中25.3规定的1i缅泓IK率.2般范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款，其中,注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件：不注日期的引用文件.其段新版本（包括所有的愫改单）适用于本文件.GB/T21711.1-2023茶础机电维电器第1都分：总则与安全亶求（IEC61810-1:2015,IDT）GB/T349872017威布尔分析（IEC61649:2008,IDT）3术诺和定义下列术语和定义适用

5、于本文件，31产aItem能够被单独考虑的任何元器件，木文件,产品是梯就小侬电器，12不修理的产品non-repairedilcui失效后不加以修理的产品。来岫GBT2900.13-2008,191-0103,付惟改3.3样本sample用以提供总体的伯息的一个或多个采样单元（份样）.来源：GB/T2900.832008,151-16-19,行修改J14抽样单元sampleitem在类似产品的总体中的一个单个产品且一时从一地取出的一个部分.来源：GB/T2900.83-2008,151T618,有修改）3.5Wcycle基础维电寄动作和越后的择放或曳归.来湖iGB/T2900.63-2003,

6、44402113.6工作Ptfrequencyofoperation循环次数件单位时间.来源：GB/T2900.632003.444-02-123.7可性reliability产品在给定的条件下和给定的循环次数或时间间隔内，完成要求的功能的能力。注1：通常以为产丛在时间间隔内的早脚介段处于能完出U胧功能的状态.注2:术语“可电性”也被作可删!特性的St度（见IEC60060312:3001,3120706）.来源IlEC60050395:2014,39507-131,fti18可性试Iftreliabilitytest对产品可览性量度或性质进行测域、定量或分类所实的试脸。来源：GB/T5080

7、.1-2012,3.1,26,有依改3.9寿命试龄Iim为了估计，证或者比较产品各f命所进行的试验，来源：GB/T5080.12012.3.I.16.有修改XlO失幢环次RcyclestofailureCTF产M从进入1：作状态的瞬间开始至失效时为止的总循环次数.3.11平均失效ItW环次三tmeanCyCleStofailureMCTF失效而循环次数的期型fft.3.12ti三tofailureTIE产品从进入工作状态的瞬间开始至失效时为止的总工作时间,样品应从同一生产批次且长及结构相同的产品中随机抽取，从抽样开始到试的开始为止的期间不允许对样品采取措,被，在抽样之IW任何特定的老练程序或可

8、辞性魔力筛选由制造厂进行,这种程序应适用于所有产Ai.制造厂应与试验结果一起对这种程序进行说明并公布.除制造厂另有规定外，在试验中被试维电器的所有触点强加规定负我井迸行连续监测，所育样品同时开始试.般,并在某一循环次数下停止试验.在此瞬间,一定数盘的样品已失效.记录每只失效样M的失效而俯环次数.试验中的样品一旦失效就不能对我替换.5.2所有祥M的试验环境条件陶相同：一一样品应该以正常工作的方式进行安装：除另有规定外，特别是安装在印制电路板上的维电器应处于水平位置进行试验：一一环境品度应按制造厂规定：一一除另有规定外,所有其他影响fit应按GB/T21711.1-2O23的表I中规定的数位和公差

9、也用.5.3 0?工作条件：一一线图额定电压：线圈抑制（如付时;一一工作频率：占空比：一一触点负我.应按制造厂规定.应按照GB/T21711.12023的第5章中给出的数值选定推荐（ft.应对制造厂规定的f种触点负我和报种触点材料进行试.按特定触直倒我的需要,作为鳍电器移体的如成部分或由制造厂表明的所杓规定潺件（如保护或抑制电路）,若有时，在试验过程中均应工作.应对触点进行连续监测，以检测Hl断开故障、闭合故障及不需要的桥接（转换触点的动台和动断两触点同时闭合）。制造厂表明的触点负栽连接方式应符合GB/T21711.12023表16的规定5.4 m除制造厂另有规定外，应采用GB/T21711.

10、12023附录C中规过的试验电路，并应在试蛤报告中表明.6失跖被试维电器的任触点在任何时间不断开或不闭合或呈现为不需要的拚接,均应认为是次故障.规定为下舛三个产酷等级：A级；首次检测到瞬时故障被确定为失效：B级：6次检测到瞬时故障或2次连续的故除被扁定为失效：C段：按制造厂焜定.应由制造厂煨定试验所枭用的严酷等级，并应在试检报告中说明。试股中出现的下列故障均应划定为失效.如绝缘故障,介质耐电压试的故障，外无热变形、燃烧成其他.7出我用于分析的数据由每个核试样品的失效前循环次数（CrF）姐成.这些CTF值应准隔无误。然而，在5.1煨定的试验条件下，不必收集到所有被试样品的CTF值，8出Ik也折对

11、试验中狭密的CTF位的估计应按附录A中给出的程序进行.注：数据分析相价颇汁灰刺桐仁9可蠡性我示应梃供本文件中规定并从数据分析中得到的适用于继电器的基本可旅性最值。然而，枭用网录A程序所得到的这些可旅性加值，在很大程度上取决于继电器的荔本设计特性、第5章中的试验条件和第6章中的失效判擀,因此还应叮试取结果一起提供下列信息：a）得到试验结果的继电器型号：I）缺点材料；2）与标准型号的差别（如仃时）；3）引出福类型。b）工作条件（见5.3）:1）戕固额定电压；2）线圈抑制（如有时）;3）工作领率：I）占空比；5）触点负我：6）环境条件.C）选用的试验电路（如果不同于GB/T21711.1-2023的

12、C.I时,见GB/T21711.12023的C.3,或详细试脸电路）；d）严酷等缎（见第6堂）.此外，试验的基本数据及相关的分析（见阳录A）应在试验报告中蛤出：a）分析方法Ib）被试的样品的数（n）：C）试险时记录的失效篇数（力：d）试验终止时的时间（以循环次数给出）：e）置信度，如果小于90%.试验结果适用于制造厂规定的试验样品和相似产品,只要相关的设计特性保持相同。可的示例为，具行相同安匝数的分悯规格，不可接受的j制为，用交澈Ia恸口砌做成不同的触点动态特性，当可得到不同工作条件（如触点负软下的试验结果时,则可以将这些试验结果绘IM成僦曲殴或合适的表格.但在绘制这些曲战时应保证有测定的足鲂

13、的点数，MA范性）敷迎析A.1M本附录取自于可靠性标席GBT349872017,并为适合于基础继电器的程序作了些必要的修改.在该可靠性标准中,认为分布是威布尔分布,这是为适合基础继电器的数据分析线过了脱证而公认的.GB/TS4987-2O17中包含了图解法和数值法.此外，在图解法中不仅采用了戒布尔概率分析，也采用了或布尔失效事分析。这电成人尔失效率分析和威布尔概率分析各Fl玷用于完整的和不完祭的敬据,尤其是后者对继电器的可兜性分析特别有用，因为从后命试脸中就得的许多数据如是不完整的（制失试验）.注1:不完整数据过是指样M山达到一定的失效品数或定的循坏次数后还有样品任正常工作，出时的试依中所获得

14、的数据组,而克整数据组则是没仃刑失的数嫄11.本附录按6113，19872017规定，对于以中位扶何日（MRR）法为依据的图解法，采用成布尔线率图和威布尔失效率图.对于数值法,采用极大似然估计（M1.El当有更深程度的侑息禽求时.可查阅GB/T34987-2017.对于辨电器,应将“时间”理蝌为“循环次数”,但.若有一个给定的工作短率,则可以将循环次数找换为相应的时间.注2:凡在OkTM9872017中使用的变t-时间”（符勺为I）,在本文件中均使用变址循环次数”（符号为C）.下列符号和公式与GB/T34987-2017ft.A.2rwCDF:累枳分布函数(CUmUlatNCdistribut

15、ionfunction):MRR:中位秩回归(medianrankregression):M1.E:极大似然估计(maximumlikelihoodestimation);McTF:平均失效加循环次数(meancyclestofailure);PDF:概率密度函数(PrOlWbiIiIydensityIimclion),A.3符号和定义F列符号在附录A、附录B和附录C中使用.补充的常数和函数在正文中规定.f（c）强率密度函数：F（C）素枳分布函数（失效概率）：h（c失效率函数（或瞬时失效率）；H（C）累枳失效率由数：R（C）威布尔分布的可靠度函数（存活徵率）；Bu一一总体的10%失效时所预期的时间（寿