超声成像设备探头性能检测方法.docx
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1、附录A超声成像设备探头性能检测方法A.1性能检测所需设备与用具超声模体。A.2性能检测方法A.2.1检测前准备工作A.2.1.1打开被测超声成像设备,调至二维B超模式。A.2.1.2根据待测的探头类型及频率范围选择合适的超声模体。A.2.1.3取下模体盖板和保护用海绵垫,在模体水槽内倾入适量蒸储水或水性凝胶型医用超声耦合剂。A.2.1.4将待测超声探头垂直放置于超声模体声窗表面上,对准待测靶群。A.2.1.5在测量时调节探头位置,保持待测靶群在超声成像区域中线上,并尽量保持垂直。A.2.2探测深度检测A.2.2.1将探头对准纵向深度靶群,调节超声的各项参数,使图像清晰可见。A.2.2.2观察纵
2、向深度靶群中可见的最深的靶线所在深度,即为被测超声探头的探测深度。A.2.3盲区检测A.2.3.1将探头对准盲区靶群最深的靶线,调节超声的各项参数,使图像清晰可见。A.2.3.2从最深的靶线开始,缓缓平移探头从深到浅依次观察盲区靶群的各个靶线,所能观测到的最小深度靶线所在深度即为被测超声探头的盲区。A.2.4侧向(横向)分辨力检测A.2.4.1将探头对准某个侧向分辨力靶群或轴侧向分辨力靶群的侧向分支。A.2.4.2调节超声的各项参数,使图像清晰可见。A.2.4.3观察所能分辨的最小靶线间隙,即为该深度处的侧向分辨力。A.2.5轴向(纵向)分辨力检测A.2.5.1将探头对准某个轴向分辨力靶群或轴
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