线宽标准样片定值计量技术规范.docx
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1、湖北省计量技术规范X线宽标准样片校准规范1.inewidthStandardSampIeCalibrationSpecification(报批稿) X发布XX实施-线宽标准样片校准规范Linewidth Standard Samp Ie Calibrat ionSpecification主要起草单位:中国船舶集团第七。九研究所本规程主要起草人:罗锦晖(中国船舶集团第七。九研究所)房斌(中国船舶集团第七。九研究所)张骋(中国船舶集团第七。九研究所)薄涛(中国船舶集团第七。九研究所)郑锋(中国船舶集团第七。九研究所)T超(中国船舶集团第七。九研究所)目录引言II2引用文件13术语和计量单位13.1
2、 线宽标准样片13.2 标准样片13.3 线宽14概述141J占I14.2用途15 计量特性26 27校准项目和校准方法37.1 校准项目37.2 37.2.1 线宽38校准结果表达4附录A5附录B8附录C9引言本规范的编制依据JJFlO71-2010国家计量校准规范编写规则、JJF1001-2011通用计量术语及定义、JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示编制。本规范为首次发布。线宽标准样片校准规范1范围本规范适用于线宽在1OOnm-10m之间的线宽标准样片线宽的校准。2引用文件本规范引用了下列文件:20213060-T-604纳米几何量标准样板测试方法GB/T39516-202
3、0微纳米标准样板(几何量)凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本规范。3术语和计量单位JJFl005界定的及下列术语和定义适用于本规范。3.1 线宽标准样片linewidthstandardsample具有线宽特征结构的,可用于微纳米几何量测量的标准样片。3.2 标准样片standardsample又称标准样板,具有典型特征的,提供一个或多个标准值的实物样片。3.3 线宽linewidth线条两侧平均线边缘之间的距离。注:线宽示意图见图1所示。图1线宽小意图4概述4.1 原理线宽标准样片(以下简称标准样片)是针对集成电路工
4、艺参数测量设备,通过复现集成电路关键尺寸量值,通过扫描电子显微镜进行测量,在实际工作状态下对扫描电子显微镜完成校准。4.2 用途标准样片是具备一个或多个典型值的专用标准样品,用于线宽测量仪器的校准。5计量特性5.1标准样片线宽的测量范围线宽的测量范围为100nm10m05.2标准样片的厚度标称值标准样片的校准点为离散值,具体值依据标准样片的型号而定。标准样片的计量特性见下表。表1标准样片计量特性标称值最大允许误差100nm+3nm200nm6nm5OOnm+IOnmIumIOnm2urn二IOnm5LimIOnmIOjimIOnm注:标准样片的标准值和测量不确定度以最终校准结果赋值为准。5.3
5、标准样片应具备的参数及性能要求5.3.1标准样片膜厚实际值与标称值的最大允许偏差应在20%以内。5.3.2标准样片膜厚的年稳定性应在2%以内。注:以上技术指标不做合格性判别,仅提供参考。6校准条件6.1 环境条件环境条件及其要求如下:a)环境温度:(203);b)相对湿度:40%65%;6.2 测量标准及其他设备测量用标准设备应经过法定计量技术机构检定或校准,满足校准使用要求,并在有效期内。a)原子力显微镜:1)线宽测量范围:1Onm10m;2)线宽测量最大允许误差:Inm;3)分辨力:水平方向(x、y方向)分辨力优于O.lnm。b)计量型扫描电子显微镜1)线宽测量范围:10nm10m;2)线
6、宽测量最大允许误差:Inm;7校准项目和校准方法7.1 校准项目标准样片的校准项目见表2。表2校准项目一览表序号校准项目校准方法条款1线宽7.2.17.2校准方法7.2.1线宽a)采用如图1所示方式将标准样片安放在原子力显微镜载物台上,标准样片与载物台坐标系一致,载物台可沿X、Y方向(在标准样片平面内)和Z方向(与标准样片平面成直角)进行移动。原子力显微镜在扫描标准样片时,探针悬臂的方向与标准样片栅线方向一致,并尽可能使栅线方向与y方向平行。图2线宽校准连接图b)给标准样片线宽参数校准时,原子力显微镜通过探针对标准样片进行扫描,扫描参数设置为轻敲模式,扫描范围一般选取lmlm0在测量时均匀地选
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- 关 键 词:
- 标准 样片 计量 技术规范
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