硬件测试学习报告.docx

硬件测试学习报告L测试背景及目的：本次测试，主要进行功能测试、结构性能测试、电气性能测试，温度特性测试，用户部件耐久性能测试等；测试硬件电路性能是否符合要求。样机数量测试时间开发测试配套硬件版本配套软件版本2.测试项目：(1)功能测试测试项测试要求测试结果液晶显示验证验证液晶显示状况、及温度变化范围内的工作状况。高温60,低温-20触屏正常，显示功能上还存在问题。按键功能验证按键功能、温度变化下按键的功能。高温60,低温-20C按键功能正常。授权读卡测试授权读卡功能、温度变化范围内的功能状况。高温60,低温-20刷卡功能正常，刷卡距离35mm0通讯功能验证3G及网线通讯功能、温度范围内的通讯功能。单独连接3G模块及网线通讯，通讯信号良好，高低温测试不影响通讯功能。结论：测试不通过。(2)结构性能测试测试项测试要求测试结果通过。不通过，详见下文图示。通过通过测试问题点,结论：结构问题较多，测试不通过。(3)电气性能测试输入电压，电流运行状况结论V=8V,I=2.7A符合启动电压要求。V=10V,1=2.IA符合启动电压要求。V=IlV,1=2.IA符合要求。V=12V,I=1.8A符合要求。V=15V,I=1.5A符合要求。V=18V,I=1.2A高压供电，设备运行正常，符合要求“V=24V,I=LlA高压供电，设备运行正常，符合要求。V=30V,I=0.9A高压供电，设备运行正常，符合要求，结论：设备直流供电电压范围;8V-30V;设备正常工作电压范围,11V15V.建议，（4）温度特性测试测试项目高温工作测试测试时间及测试方法高温50连续工作4小时；高温60连续工作4小时；测试设备编号测试结果测试项目低温工作测试测试时间及测试方法低温-I（TC连续工作4小时；低温-2（C连续工作4小时；测试设备编号测试结果结论I高低温老化测试通过。（5）用户部件耐久性能测试测试项测试要求测试结果耐久性测试1耐久性测试2引出线抗拉性验收验证引出线在使用中经受拉力和折弯的能力。内部走线，不存在强拉线束情况。连接器可靠性检测检验单个柜和主通讯线、其它连接器的连接可靠性。内部走线，影响不大，接插件已多次插拔，为出现异常。4.测试结果结构、电子都存在问题，特别箱门锁故障率较高，测试不通过。测试人/日期：审核/日期：批准/日期: