表面粒子发射率计量器具检定系统编写说明.docx

Q、B表面粒子发射率计量器具检定系统编写说明。、B表面粒子发射率计量器具检定系统表编写说明（Q、B表面粒子发射率计量器具检定系统编写组）一、必要性当前，国内关于a、B表面粒子发射率量值传递仍然执行1989年颁布的JJG2041-1989测量Q、B表面污染的计量器具。考虑到近些年，a、B表面粒子发射率计量器具已经不仅仅局限于测量a、B表面污染，诸如低本底a、B测量仪、a谱仪等计量器具，其测量结果也需要通过Q、B表面粒子发射率量值溯源至国家基标准。此外,a、B表面污染仪计量器具的检定规程已于2016年颁布了修订版，相对固有误差等计量特性指标发生变化。因此，已经执行了三十余年的JJG2041-1989测量a、B表面污染的计量器具检定系统表已经不能很好的满足国内、B表面粒子发射率量值传递的实际需要。为此，国家市场监督管理总局于2018年下达任务，由中国计量科学研究院、中国测试技术研究院、上海市计量测试技术研究院和国防科技工业电离辐射一级计量站组成编写小组，负责修订适用于、B表面粒子发射率量值传递的检定系统表。二、编写过程本检定系统表的修订工作由市场监督管理总局计量司委托全国电离辐射计量技术委员会于2018年下达，由中国计量科学研究院、中国测试技术研究院、上海市计量测试技术研究院和国防科技工业电离辐射一级计量站组成编写小组完成修订工作。鉴于目前广泛应用的用于测量a、B表面粒子发射率不仅仅局限于、B表面污染计量器具，像用于水中总、总B测量的低本底、B测量仪、用于能谱测量和定量分析的谱仪等计量器具，这些计量器具对a、B表面粒子发射率的测量结果都需要通过、B表面粒子发射率计量器具检定系统溯源至国家基准，从而确保在其应用领域内测量结果的准确可靠。因此，新修订的检定系统表不仅仅针对a、B表面污染测量仪计量器具的量值传递。故原检定系统表JJG2041-1989测量a、B表面污染的计量器具的名称修订为a、B表面粒子发射率计量器具检定系统。本检定系统表以2na、2nB粒子发射率国家基准的研究成果、相应的比对结果、标准研制以及对相关标准级计量器具和工作计量器具的量值传递方法研究结果为基础和技术依据。起草小组于2022年02月形成检定系统表初稿，在此基础上经过多方调研和修改，于2024年10月初步完成检定系统表的征求意见稿，并提请全国电离辐射计量技术委员会委员和相关单位的专家征求意见。三、编写依据本检定系统是由2JTQ、2JTB粒子发射率基准通过CX、B表面粒子发射率标准装置和a、B标准平面源向工作计量器具传递a、B表面粒子发射率量值的程序。编制过程中参考JJG2041-1989测量a、B表面污染的计量器具，并综合Q、B表面污染仪、低本底Q、B测量仪、a谱仪等a、B表面粒子发射率计量器具的发展和应用现状编写而成。四、适用范围本检定系统表适用于a、B表面粒子发射率计量器具的量值传递，不适用于Y射线发射率计量器具。这里的计量器具包括标准级a、B表面粒子发射率计量器具和工作级a、B表面粒子发射率计量器具。对于标准级Q、B表面粒子发射率计量器具，可分为测量Q、B表面粒子发射率的标准装置和Q、B标准平面源。其中，测量Q、B表面粒子发射率的标准装置一般为多丝正比计数器，由于电子学死时间和本底计数率的影响，对Q、B表面粒子发射率的测量范围分别为（l104）J和（10-104）S1Oq、B标准平面源根据活性区面积，可分为用于检定表面污染仪的大面积Q、B标准平面源（源活性区一般为15OmmXlOOmm,表面粒子发射率均匀性不超过10%）和用于检定低本底总Q、总B测量仪的小面积、B平面源（活性区一般为63OnInl和625mm）。Q、B标准平面源的表面粒子发射率范围分别为（ITO，）S-I和（10-104）s-1o对于工作级Q、B表面粒子发射率计量器具，也可分为工作级测量Q、B表面粒子发射率的装置和Q、B平面源。工作级测量Q、B表面粒子发射率的装置包括：基于多丝正比计数器的a、B表面粒子发射率测量装置，低本底总a、总B测量仪，流气正比计数器总a、总B测量仪），Q、B表面污染仪，固定式Q、B个人表面污染监测装置和a谱仪等；a、B平面源包括不同核素类型、不同活性区范围的单核素或a混合核素源。五、可行性在a、B表面粒子发射率量值基标准体系方面，中国计量科学研究院已经建立了2几Q、2几B粒子发射率国家基准，为该量值的溯源源头，中国测试技术研究院建立了2几。、2rB粒子发射率国家副基准。部分省市自治区计量部门陆续建立了Q、B表面粒子发射率的标准装置、。、B表面污染仪检定装置、低本底Q、B测量仪检定标准装置等Q、B表面粒子发射率量值计量标准，为量值向工作计量器具传递和向基准溯源提供了技术保障。a、B表面粒子发射率计量器具检定系统编写组2024年10月08日